[发明专利]一种挠度测量校正方法、装置及系统有效
| 申请号： | 201911267456.3 | 申请日： | 2019-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN111060136B | 公开（公告）日： | 2021-12-21 |
| 发明（设计）人： | 刘肖琳;于起峰;张跃强;丁晓华 | 申请（专利权）人： | 深圳大学 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 熊永强;王勤 |
| 地址： | 518000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种挠度测量校正方法、装置及系统。该方法应用于挠度测量系统。该挠度测量系统包括计算设备、校准摄像机、挠度测量装置和测量平台。该方法包括：校准摄像机对不动参考点采集第一图像数据；不动参考点为绝对位置不变的点；校准摄像机将第一图像数据发送给计算设备；挠度测量装置利用测量摄像机对待测结构体上的待测点采集第二图像数据，并将第二图像数据发送给计算设备；计算设备根据第一图像数据，计算测量平台的晃动量；晃动量为测量平台的位置姿态的变化量；计算设备根据第二图像数据计算待测点的挠度，并根据晃动量校正待测点的挠度。实施本发明实施例，可以提高挠度测量的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 挠度 测量 校正 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
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