[发明专利]多退化机理耦合的电磁继电器全寿命周期可靠性评估方法有效
| 申请号： | 201911267935.5 | 申请日： | 2019-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN110941912B | 公开（公告）日： | 2021-06-01 |
| 发明（设计）人： | 叶雪荣;陈昊;陈岑;翟国富 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F119/04 |
| 代理公司： | 哈尔滨龙科专利代理有限公司 23206 | 代理人： | 高媛 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 多退化机理耦合的电磁继电器全寿命周期可靠性评估方法，涉及电磁继电器评估方法。分析确定退化参数；对温度场分布工作剖面进行剖析；实验获取退化参数数据，建立电磁继电器单参数退化模型；形成多元退化字典库；建立温度场分布耦合计算模型；展开虚拟实验过程，得到多退化耦合作用下的电磁继电器关键零部件和制造工序过程参数退化数据；建立耦合退化模型；将耦合退化模型代入到温度场分布耦合计算模型中，根据温度场分布的退化失效阈值计算得到伪寿命；通过拟合计算得到伪寿命分布类型的参数，进而完成可靠性的评估。补充了当前电磁继电器可靠性评估过程中多退化机理耦合作用综合考虑方法的缺失。 | ||
| 搜索关键词： | 退化 机理 耦合 电磁 继电器 寿命 周期 可靠性 评估 方法 | ||
【主权项】：
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