[发明专利]一种利用两张带轴电子衍射花样或高分辨像进行物相识别的方法有效
| 申请号： | 201911276825.5 | 申请日： | 2019-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN112986293B | 公开（公告）日： | 2023-02-21 |
| 发明（设计）人： | 施洪龙 | 申请（专利权）人： | 中央民族大学 |
| 主分类号： | G01N23/20058 | 分类号： | G01N23/20058;G01N23/2005;G01N23/2055 |
| 代理公司： | 北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙) 11535 | 代理人： | 刘元霞;黄海丽 |
| 地址： | 100081 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： |
本发明涉及一种利用两张带轴电子衍射花样或高分辨像进行物相识别的方法，属于材料显微结构分析和晶体结构表征的技术领域。本发明的方法不必倾转到高对称性的带轴，不需要倾转为严格的正带轴，也不用记录每张电子衍射的倾转信息，所用透射电子显微镜不必具有大极靴的物镜；本发明的方法结合倒易空间重构法和传统的指标化方法，通过初基原胞和倒易角α |
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| 搜索关键词： | 一种 利用 两张带轴 电子衍射 花样 分辨 进行 相识 别的 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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