[发明专利]一种基于过渡金属二硫化物侧面异质结的光子探测器

摘要

本发明公开了一种基于过渡金属二硫化物侧面异质结的光子探测器，属于纳米尺度电子器件技术领域。本发明的技术方案要点为：一种基于过渡金属二硫化物侧面异质结的纳米尺度光子探测器，由具有金属特性的1T相结构的二硫化钒单层与呈现半导体特性的2H相结构的二硫化钼单层组成的单层侧面异质结构成。本发明所述的光子探测器三极管结构超薄，厚度不足4埃，大小尺寸可据实际需要灵活调控定制且功耗较低。本发明具有结构超薄、尺寸可调、蓝光探测效果显著及功耗低等优良特点。