[发明专利]遮光层介电常数测量方法及介电常数检测面板在审
| 申请号： | 201911291949.0 | 申请日： | 2019-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN111060751A | 公开（公告）日： | 2020-04-24 |
| 发明（设计）人： | 郑风云;徐阳;陈建伦;刘力明;雷国奖 | 申请（专利权）人： | 信利（惠州）智能显示有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 赵潇君 |
| 地址： | 516029 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种遮光层介电常数测量方法及介电常数检测面板，遮光层介电常数测量方法包括：在玻璃基板上形成第一金属层；在第一金属层上形成遮光层，其中，遮光层在玻璃基板上的投影与第一金属层在玻璃基板上的投影部分重叠；在遮光层上形成第二金属层；获取第一金属层与第二金属层之间的电容值；根据电容值获取遮光层的介电常数。遮光层在玻璃基板上的投影与第一金属层在玻璃基板上的投影部分重叠，使得第一金属层的部分表面曝露，便于检测装置同时与第一金属层和第二金属层接触，从而便于获取第一金属层和第二金属层之间的电容值，进而便于获取第一金属层和第二金属层之间的遮光层的介电常数。 | ||
| 搜索关键词： | 遮光 介电常数 测量方法 检测 面板 | ||
【主权项】：
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