[发明专利]一种用于傅里叶叠层显微成像技术的光强校正方法有效
申请号: | 201911299272.5 | 申请日: | 2019-12-17 |
公开(公告)号: | CN111062889B | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 张韶辉;郝群;王影;胡摇 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00;G06T3/40;G02B21/36 |
代理公司: | 北京市中闻律师事务所 11388 | 代理人: | 冯梦洪 |
地址: | 100081 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种用于傅里叶叠层显微成像技术的光强校正方法,能够实现图像亮度校正的效果,进而达到校正光强不一致误差的目的。包括:(1)采集原始图像,构成图像数据集;(2)设定一个图像强度倍数变化区间[A,B],将采集的原始图像对应的强度校正系数初始值定为1,变换强度校正系数数值,调整图像的强度;将初始图像强度校正系数值按照区间[A,B]内的值根据t依次变化,每次测量图像都乘以不同的强度校正系数,每次变化后都计算一次评价函数;经过若干次迭代,找到最合适的亮度倍数值;(3)对每张低分辨率图像都按照最合适的亮度倍数值调整,就完成了图像的亮度校正;(4)经过校正后的图像进行高分辨率重构,得到重构图像。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 傅里叶叠层 显微 成像 技术 校正 方法 | ||
【主权项】:
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