[发明专利]一种PHY参数调试方法、装置、存储介质及电子设备有效
| 申请号： | 201911307639.3 | 申请日： | 2019-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN111045970B | 公开（公告）日： | 2021-05-11 |
| 发明（设计）人： | 刘海亮 | 申请（专利权）人： | 江苏芯盛智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F13/38 | 分类号： | G06F13/38;G06F13/42 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 张欣欣 |
| 地址： | 213000 江苏省常州市武进区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请提出一种PHY参数调试方法、装置、存储介质及电子设备。当处理器获得初始化加载完毕指示信号时，开始修改静态随机存储器中的数据，再当静态随机存储器中的数据修改完成时，处理器向PCIe PHY发送第一触发指令，以使PCIe PHY从静态随机存储器中读取数据，用于执行PCIe PHY中每一个通道的校准和自适应算法，以使PCIe PHY与当前安装的主板匹配，从而可以正常启动运行，解决了现有技术中只读存储器中数据不能修改从而导致PHY参数无法调节的问题，以使得PCIe PHY能够匹配更多的主板设备。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 phy 参数 调试 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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