[发明专利]一种以二氧化硅矿石为原料的集成电路用晶片检测设备

摘要

本发明涉及晶片检测技术领域，且公开了一种以二氧化硅矿石为原料的集成电路用晶片检测设备，包括传送带，所述传送带的表面固定连接有支撑架，支撑架的表面固定连接有镜头，支撑架的内部活动连接有扇叶，扇叶的表面固定连接有转轴，支撑架的内部且位于扇叶远离转轴的一侧固定连接有检测机构，所述检测机构包括滑动体。气流从阻隔块表面喷出，并吹动在传送带表面的晶体上，因晶体的面积大于检测机构之间的距离，所以晶体表面会均匀受到气流的支撑力，而处于支撑架上部检测机构也喷出同样均匀度的气流，晶体从而不再与传送带接触，上下两侧的检测镜头照射在晶体表面，从而达到了不接触晶体表面便可进行检测的效果。