[发明专利]一种基于FPGA平台的芯片全功能自测系统及其方法有效
| 申请号： | 201911312447.1 | 申请日： | 2019-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN110961364B | 公开（公告）日： | 2022-06-17 |
| 发明（设计）人： | 高峰 | 申请（专利权）人： | 浪潮（北京）电子信息产业有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/00 | 分类号： | B07C5/00;B07C5/02;B07C5/36 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 巴翠昆 |
| 地址： | 100085 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种基于FPGA平台的芯片全功能自测系统及其方法，包括：传送带，图像传感器，FPGA测试台和云台双路步进电机；其中，传送带用于将被测芯片依次传送至图像传感器下方；图像传感器用于将被测芯片的丝印图像传送至FPGA测试台；FPGA测试台用于通过LeNet读取丝印信息，调取与丝印信息对应的被测芯片的全功能测试可执行程序，找到与测试可执行程序对应的FPGA内部的关于测试管脚连接方式的配置信息，完成管脚连接匹配及芯片加载测试，还用于根据全功能测试结果控制云台双路步进电机对测试后的被测芯片进行分类。这样实现芯片全功能全自动测试，可以大幅提高芯片全功能测试的精度和效率，减少人力物力和时间成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 fpga 平台 芯片 全功能 自测 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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