[发明专利]一种外承力筒式结构舱体精度测量工艺基准建立方法有效

专利信息
申请号: 201911313270.7 申请日: 2019-12-19
公开(公告)号: CN111121713B 公开(公告)日: 2021-11-16
发明(设计)人: 王正华;申世军;陈登海;黄剑;朱春雷;尤智伟;刘明芳 申请(专利权)人: 上海航天设备制造总厂有限公司
主分类号: G01C1/02 分类号: G01C1/02
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 马全亮
地址: 200245 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种外承力筒式结构舱体精度测量工艺基准建立方法,通过工艺基准、基准面建立、工艺基准及基准的转换等方法,确保舱体结构平台上电子仪器的装配精度。本发明的基准转换方法、稳定的基准的建立、基准棱镜安装、测量工艺环研制,可满足外承力筒式结构舱体大型舱体的精密电子仪器装配,满足舱体机械坐标系精度需求。本发明的基准转换方法、稳定的基准的建立、基准棱镜安装、测量工艺环研制,可以保证该外承力筒式大型结构舱体在空载状态、满载状态、与其它舱体连接、吊装、运输等过程,测量基准稳定、无变形,满足在各种状态下测量精度。
搜索关键词: 一种 外承力筒式 结构 精度 测量 工艺 基准 建立 方法
【主权项】:
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