[发明专利]测定系统在审
| 申请号： | 201911315204.3 | 申请日： | 2019-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN111435074A | 公开（公告）日： | 2020-07-21 |
| 发明（设计）人： | 下山真生;米花慎二 | 申请（专利权）人： | 本田技研工业株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 海坤 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 测定系统(100)具备：测定装置(2)，其测定工件(WK)；显示装置(16)，其显示与工件(WK)对应的工件信息；读取装置(3)，其读取由显示装置(16)显示的工件信息；以及控制装置(20)，其具有将由读取装置(3)读取到的工件信息与由测定装置(2)得到的工件(WK)的测定信息建立对应关系而存储的存储部(22)。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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