[发明专利]一种精密测距装置及其校准方法有效
| 申请号： | 201911326638.3 | 申请日： | 2019-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN110986848B | 公开（公告）日： | 2021-07-20 |
| 发明（设计）人： | 江雨婷;卢小银;赵华;张帆;沈沉;雷传杰;史秀婷;黄九俊;吕盼稂;严德斌;金一 | 申请（专利权）人： | 合肥富煌君达高科信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/04 | 分类号： | G01B21/04 |
| 代理公司： | 合肥维可专利代理事务所(普通合伙) 34135 | 代理人： | 吴明华 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开一种精密测距装置及其校准方法，该精密测距装置包括光学导轨及若干分布于光学导轨上的测距组件，光学导轨上安装有用于丈量长度待测距离的磁栅尺条，测距组件通过移动单元连接于光学导轨上，移动单元上固定安装有用于与磁栅尺条匹配的磁头，磁头与磁栅尺条进行配合，使得待测距离的读数在磁头中显示，测距组件包括多个测距元件，多个测距元件通过定位工件进行定位及校准，定位工件包括多个具有固定直径的圆形体，圆形体直径从定位工件的一端到另一端呈递增的趋势，本发明的精密测距装置能够提高测量精度，而且在使用前的校准工作中，能够提高定位精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 精密 测距 装置 及其 校准 方法 | ||
【主权项】：
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