[发明专利]硅棒杂质点位置判定方法在审
| 申请号： | 201911344522.2 | 申请日： | 2019-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN113030181A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 翟传鑫;李飞龙 | 申请（专利权）人： | 阿特斯光伏电力（洛阳）有限公司;阿特斯阳光电力集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/72 | 分类号： | G01N25/72 |
| 代理公司： | 苏州携智汇佳专利代理事务所(普通合伙) 32278 | 代理人： | 于欣 |
| 地址： | 471000 河*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种硅棒杂质点位置判定方法，主要包括以下步骤：S1、提供红外探伤仪和硅棒，按照红外探伤仪的扫描顺序，对硅棒的四个侧面进行扫描，形成四幅扫描图；S2、利用红外探伤仪对每张扫描图进行杂质辨认，并记录下每个杂质点在对应扫描图中的X、Y坐标值；S3、根据扫描图中杂质点的清晰程度，选择任意相邻的两张杂质点清晰度高的图，列举出每张图中每个杂质点的X坐标值，并将每张图中杂质点的X坐标值单独成列，形成两列数据；S4、选定两列数据中的所有数据，使生成散点图，根据该散点图中杂质点的分布区域判定出硅棒的杂质面。相较于现有技术，本发明能够直接判断出硅棒的杂质面，为后续的切割工艺提供帮助。 | ||
| 搜索关键词： | 杂质 位置 判定 方法 | ||
【主权项】：
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