[发明专利]一种基于光热电效应的激光轨迹跟踪器件及跟踪测试方法在审
申请号: | 201911346122.5 | 申请日: | 2019-12-24 |
公开(公告)号: | CN111162159A | 公开(公告)日: | 2020-05-15 |
发明(设计)人: | 朱宏伟;钟雨嘉 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | H01L35/00 | 分类号: | H01L35/00;H01L35/02;G01B7/004 |
代理公司: | 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 | 代理人: | 邸更岩 |
地址: | 100084 北京市海淀区北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种基于光热电效应的激光轨迹跟踪器件及方法,属于电子器件技术领域。该跟踪器件包括柔性衬底、热电薄膜和四个电极;热电薄膜位于衬底之上,四个电极分别设置在热电薄膜上面的四条边上,且相邻两个电极之间互不连接。所述方法包括位置标定、光斑定位和轨迹跟踪等步骤,该方法根据光热电效应中光照位置对输出电压信号的影响,采用一类热电薄膜材料制备激光轨迹跟踪器件,通过测试两个方向的光热电输出电压信号,能实现二维平面内的激光定位和轨迹跟踪。本发明组装简单、信号易测量、使用寿命长,可以基于少量输出信号实现激光轨迹跟踪的功能,减少运算量,提高数据处理效率,因而具有重要的应用价值。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 热电 效应 激光 轨迹 跟踪 器件 测试 方法 | ||
【主权项】:
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