[发明专利]一种半导体装置及其探针测试方法在审
| 申请号： | 201911346978.2 | 申请日： | 2019-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN111090033A | 公开（公告）日： | 2020-05-01 |
| 发明（设计）人： | 刘家铭;张孝仁;苏华庭 | 申请（专利权）人： | 淮安芯测半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京一枝笔知识产权代理事务所(普通合伙) 11791 | 代理人： | 张庆瑞 |
| 地址： | 223300 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种半导体装置，包括底座基板，连接探针，陶瓷管，填充保护层结构，防氧化盖，手拉带，加热丝，侧拉柄，侧防护壳，电极阴极，电极阳极，蜂鸣警报器，指示灯和装置主壳体，所述的底座基板螺钉连接在装置主壳体的下部位置。本发明一种半导体装置的探针测试方法，具体包括以下步骤待测试半导体装置的处理；半导体装置与测试探针卡连接；探针卡与测试装置连接：测试数据的分析；有效信息的输出；无效信息的输出测试结果的反馈；本发明一次完成多个芯片的全流程测试，提高了测试效率，这同时也反映在降低测试成本上；并能够对测试数据进行分类的处理输出，并且输出形式多种多样方便直观观察，提高阅读收集的便捷性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 装置 及其 探针 测试 方法 | ||
【主权项】：
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