[发明专利]片状电子部件的检查方法以及检查装置在审

专利信息
申请号: 201911355085.4 申请日: 2013-07-10
公开(公告)号: CN110837021A 公开(公告)日: 2020-02-25
发明(设计)人: 林央人 申请(专利权)人: 慧萌高新科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 刘书航;申屠伟进
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 公开了片状电子部件的检查方法和检查装置。提供了使用两台以上的检查器以高速且高精度来检查大量片状电子部件的电特性的方法。片状电子部件的检查方法对检查对象的各片状电子部件的电特性进行检查,包括:在把分别根据相同标准以示出规定的相同电特性的方式制造的两个以上的检查对象的片状电子部件相互接近地配置的状态下将该片状电子部件的每个与相互独立的检查器电连接;以及从各检查器对每个片状电子部件施加具有相互相同或者大致相同的频率的检查用电压,用各检查器检测通过施加该检查用电压而在各片状电子部件中发生的电流值,所述片状电子部件的检查方法的特征在于,在相互不重复的时段进行从各检查器向各片状电子部件的检查用电压的施加。
搜索关键词: 片状 电子 部件 检查 方法 以及 装置
【主权项】:
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