[发明专利]分析税控设备的方法、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 201911357794.6 | 申请日： | 2019-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN111145460A | 公开（公告）日： | 2020-05-12 |
| 发明（设计）人： | 袁俊玲;张国超;杨为琛;李博宇;刘博远;高硕;张朝阳 | 申请（专利权）人： | 航天信息股份有限公司 |
| 主分类号： | G07G1/12 | 分类号： | G07G1/12 |
| 代理公司： | 北京思创大成知识产权代理有限公司 11614 | 代理人： | 张立君 |
| 地址： | 100195 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开实施例公开了一种分析税控设备的方法、电子设备及存储介质。其中，分析税控设备的方法，包括：获取税控设备的日志文件；基于所述日志文件分析税控设备的性能，得到分析结果；基于所述分析结果获取提高所述税控设备性能的解决方案；发送所述解决方案。通过获取税控设备的日志文件，并基于日志文件对税控设备的性能进行分析，当分析出税控设备有异常或需要提升性能的时候，生成相应的解决方案，并将解决方案发送给相关的人员或设备，对税控设备进行及时维护或升级，从而对税控设备及时分析，提高了税控设备的性能。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 设备 方法 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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