[发明专利]一种MCU用户程序代码的保护结构及其熔断测试方法在审

专利信息
申请号: 201911360842.7 申请日: 2019-12-25
公开(公告)号: CN111209186A 公开(公告)日: 2020-05-29
发明(设计)人: 李京;汪成喜;胡乃全;朱建国;徐栋麟 申请(专利权)人: 上海亮牛半导体科技有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06F21/12
代理公司: 大连科技专利代理有限责任公司 21119 代理人: 龙锋
地址: 201207 上海市浦东新区中国*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种MCU用户程序代码的保护结构及其熔断测试方法,MCU的调试模块通过中央处理单元与片上闪存连通,所述调试模块与调试接口连通,所述调试模块与调试接口之间连有电子熔丝,所述电子熔丝连有电子熔丝控制器。本发明的特点是:通过熔断电子熔丝将调试接口的通路熔断,永久除能调试接口,不能恢复,从而达到保护片上闪存中用户程序代码的目的,有效防止用户程序被复制。
搜索关键词: 一种 mcu 用户 程序代码 保护 结构 及其 熔断 测试 方法
【主权项】:
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