[发明专利]一种芯片自动测试机在审
申请号: | 201911363059.6 | 申请日: | 2019-12-26 |
公开(公告)号: | CN111112149A | 公开(公告)日: | 2020-05-08 |
发明(设计)人: | 吕本科;薛静;张照;胡新猛;胡庆丰;徐静 | 申请(专利权)人: | 苏州华祎科技有限公司 |
主分类号: | B07C5/344 | 分类号: | B07C5/344;B07C5/38;B07C5/36 |
代理公司: | 苏州国诚专利代理有限公司 32293 | 代理人: | 王丽 |
地址: | 215151 江苏省苏州市高*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明揭示了一种芯片自动测试机,其包括测试装置(6),所述测试装置(6)包括复位组件(61)、连接于所述复位组件(61)上的治具(613)、设置于所述治具(613)上方的下压组件(62)和设置于所述治具(613)下方的模组头(631),所述治具(613)内设置有容纳芯片(7)的容纳腔(6130),所述下压组件(62)可驱动所述治具(613)下行,使所述触点(7a)与所述模组头(631)的测试针(633)接触,所述复位组件(61)可驱动所述治具(613)复位。本发明中,下压组件能够压下治具,使模组头的测试针与芯片上的触点接触并电连接,从而实现设备自动对芯片进行测试,大大提高了生产效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 自动 测试 | ||
【主权项】:
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