[发明专利]结晶性氧化物半导体、半导体装置及半导体系统在审

专利信息
申请号: 201911364732.8 申请日: 2019-12-26
公开(公告)号: CN111384158A 公开(公告)日: 2020-07-07
发明(设计)人: 高桥勋;鸟山达矢;杉本雅裕;四戸孝;上东秀幸;大原淳士;广濑富佐雄;松木英夫 申请(专利权)人: 株式会社FLOSFIA;株式会社电装
主分类号: H01L29/24 分类号: H01L29/24;H01L23/367;H01L29/732;H01L29/739;H01L29/778;H01L29/786;H01L29/872;H01L33/26;H01L33/64
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 刁兴利;康泉
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种对要求散热性的半导体装置等有用的、晶体品质优异的结晶性氧化物半导体、半导体装置及半导体系统。在形成至少包括第一晶轴和第二晶轴的结晶性氧化物半导体时,通过使第二边比第一边短,使第一晶轴方向的线热膨胀系数比第二晶轴方向的线热膨胀系数小,使第一边方向与第一晶轴方向平行或大致平行,使第二边方向与第二晶轴方向平行或大致平行,从而得到一种结晶性氧化物半导体,该结晶性氧化物半导体至少包括第一边和比第一边短的第二边,第一晶轴方向的线热膨胀系数比第二晶轴方向的线热膨胀系数小,第一边方向与第一晶轴方向平行或大致平行,第二边方向与第二晶轴方向平行或大致平行。
搜索关键词: 结晶 氧化物 半导体 装置 系统
【主权项】:
暂无信息
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