[发明专利]一种晶体振荡器测试装置及测试方法在审
| 申请号： | 201911368418.7 | 申请日： | 2019-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN110954757A | 公开（公告）日： | 2020-04-03 |
| 发明（设计）人： | 郄莉;彭慧丽;于德江;乔志峰;韩艳菊;苏霞 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R29/26 | 分类号： | G01R29/26;G01R1/04;G01M7/02 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 付生辉 |
| 地址： | 100854 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种晶体振荡器测试装置及测试方法，该装置包括振动测试台，还包括夹具和至少一个印刷电路板，所述夹具固定在所述振动测试台上，所述印刷电路板固定在所述夹具上，所述印刷电路板用于刚性电连接至少一个被测晶体振荡器。本发明通过设计可同时固定至少一个的被测晶体振荡器的夹具，以实现至少一个的被测晶体振荡器的同时测试；本发明还通过对被测晶体振荡器的四周进行固定的技术方案，以实现无需拆卸该测试装置而达到实时多次调测的目的。本发明可有效提高测试效率，降低了在振动测试时的外界噪声干扰，提高晶体振荡器测试的准确性，确保振动下被测晶体振荡器相位噪声指标的真实性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶体振荡器 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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