[发明专利]半导体设备的介质窗的清洗方法以及相关半导体加工设备有效
申请号: | 201911371199.8 | 申请日: | 2019-12-26 |
公开(公告)号: | CN111048396B | 公开(公告)日: | 2023-07-11 |
发明(设计)人: | 刘春明 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
主分类号: | H01J37/32 | 分类号: | H01J37/32 |
代理公司: | 北京荟英捷创知识产权代理事务所(普通合伙) 11726 | 代理人: | 陈亚英 |
地址: | 100176 北京市大*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种半导体设备的介质窗的清洗方法,该半导体设备包括:反应腔室、介质窗、感应线圈、清洗电极、射频源组件以及阻抗调节组件。射频源组件用于向感应线圈以及清洗电极加载射频功率;阻抗调节组件与清洗电极电连接,并与射频源的输出端可通断地连接。该清洗方法包括:通过调节阻抗调节组件使得射频源组件的输出端与清洗电极之间的阻抗大于第一预设值,以使射频功率加载于感应线圈之上实现反应腔室内等离子体起辉;以及通过调节阻抗调节组件使得阻抗小于第一预设值,以使射频功率加载于清洗电极上,以维持等离子体实现对介质窗进行清洗。 | ||
搜索关键词: | 半导体设备 介质 清洗 方法 以及 相关 半导体 加工 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京北方华创微电子装备有限公司,未经北京北方华创微电子装备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201911371199.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种基于FFT的带宽平坦度校准方法
- 下一篇:抗多址干扰的信号捕获方法及装置