[发明专利]一种高灵敏度日冕仪杂光检测装置有效

专利信息
申请号: 201911377982.5 申请日: 2019-12-27
公开(公告)号: CN111060289B 公开(公告)日: 2021-08-06
发明(设计)人: 陈波;张广;何玲平;王蕴琦;郭权锋;张宏吉;宋克非;韩振伟;彭家浩 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01J11/00
代理公司: 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 代理人: 李外
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明提供一种高灵敏度日冕仪杂光检测装置,涉及天文目标观测和检测领域,该装置包括:低亮度太阳模拟装置、带通滤光片和单光子计数成像探测器;所述的带通滤光片设置在待测日冕仪和单光子计数探测器中间,所述单光子计数探测器设置在待测日冕仪的焦面上;所述的低亮度太阳模拟装置发出32′全视场的模拟太阳光进入待测日冕仪,带通滤光片对待测波段进行波长选择,单光子计数成像探测器检测待测日冕仪的杂光亮度和太阳日面亮度。本发明通过分别测量太阳日面辐射和日冕仪杂光辐射,即可实现对日冕仪杂光抑制能力的检测,克服了在低海拔地区由于大气散射的影响导致无法利用太阳辐射直接进行日冕仪杂光抑制能力检测的困难。
搜索关键词: 一种 灵敏度 日冕 仪杂光 检测 装置
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