[发明专利]一种套孔法结合十字线扫描的激光光束发散角测量方法有效
| 申请号： | 201911385483.0 | 申请日： | 2019-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN111458022B | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 邢冀川;吴俊儒;吴晓鸣;赵子默 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 高会允 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种套孔法结合十字线扫描的激光光束发散角测量方法，涉及光电测试测量技术领域，能够实现对于超小发散角(低于0.4mrad)激光的发散角测量，并保证测量的准确性和精度。激光器发射激光光束，在激光器的输出光路中，设置离轴抛物面镜，并在离轴抛物面镜交点处设置小孔光阑面板。采用小孔光阑面板针对激光光束进行扫描，小孔光阑面板上具备按照直径由大到小排列的小孔，取直径小于设定直径阈值的小孔作为十字扫描小孔，利用十字扫描小孔对激光光束进行十字线扫描。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 套孔法 结合 十字 扫描 激光 光束 发散 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京理工大学，未经北京理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911385483.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
