[发明专利]DDR测试系统和DDR测试方法在审
| 申请号： | 201911405295.X | 申请日： | 2019-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN111044883A | 公开（公告）日： | 2020-04-21 |
| 发明（设计）人： | 刘冲;李振华 | 申请（专利权）人： | 深圳佰维存储科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/317 |
| 代理公司： | 深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426 | 代理人： | 隆毅 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区桃*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种DDR测试系统和DDR测试方法，其中DDR测试系统包括测试终端、处理模块、控制模块和上料模块；控制模块用于控制上料模块上料以及向处理模块发送启动测试指令；处理模块用于完成对测试终端的上电操作；测试终端，用于对DDR芯片进行功能测试，并向处理模块发送反馈信号；处理模块还用于将测试结果发送给控制模块；控制模块还用于根据测试结果控制上料模块对DDR芯片进行分类。本发明实施例与现有技术相比测试效率更高，且节约了大量人力。 | ||
| 搜索关键词： | ddr 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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