[发明专利]半导电缓冲层电气的测试电路、评估方法及处理终端在审
| 申请号： | 201911406771.X | 申请日： | 2019-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN111060848A | 公开（公告）日： | 2020-04-24 |
| 发明（设计）人： | 徐晓峰;夏俊峰;施楠楠 | 申请（专利权）人： | 上海电缆研究所有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/58 | 分类号： | G01R31/58 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 张燕 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种半导电缓冲层电气的测试电路、评估方法及处理终端，所述半导电缓冲层电气测试电路包括：高压环，紧贴待测试电缆段的绝缘屏蔽层，且与待测试电缆段的导体短接；屏蔽环，紧贴待测试电缆段的半导电缓冲层；直流源组件，直流源组件的高压极与所述高压环连接，直流源组件的低压极与所述屏蔽环及电缆的金属套连接；其中，半导电缓冲层设置于绝缘屏蔽层的两侧。本发明可有效解决现有带材测试和电缆整体高压电气试验方法的局限和不足；综合反映缓冲带材、绕包结构、铝套间隙等因素，有效评价缓冲层的材料特性、结构特性和电接触特性，为高压电缆成品的缓冲层检验评价提供方法支撑，从而促进高压电缆系统寿命期间的可靠性提升。 | ||
| 搜索关键词： | 导电 缓冲 电气 测试 电路 评估 方法 处理 终端 | ||
【主权项】：
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