[发明专利]一种抑制采样开关漏电流的方法及采样开关在审

专利信息
申请号: 201911421504.X 申请日: 2019-12-31
公开(公告)号: CN111049508A 公开(公告)日: 2020-04-21
发明(设计)人: 周述 申请(专利权)人: 湖南国科微电子股份有限公司
主分类号: H03K17/56 分类号: H03K17/56
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 刘奕
地址: 410131 湖南省长沙市*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种抑制采样开关漏电流的方法及采样开关,通过在采样开关进入采样阶段时控制第一MOS开关管和第二MOS开关管的栅漏电压差保持不变,可以使开关管的导通电阻不随输入信号电压的变化而变化;通过在采样开关进入保持阶段时控制第二MOS开关管的漏极电压保持为第一电源的电压,可以使采样开关的输出信号的电压不随输入信号电压的变化而变化,与现有技术相比,抑制了采样开关的漏电流,提高了采样开关的可靠性。
搜索关键词: 一种 抑制 采样 开关 漏电 方法
【主权项】:
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