[发明专利]芯片测试系统及方法在审
| 申请号： | 201911422265.X | 申请日： | 2019-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN111693846A | 公开（公告）日： | 2020-09-22 |
| 发明（设计）人： | 朱国壔;谢雅瑄;洪孟群 | 申请（专利权）人： | 新唐科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 周晓飞;许曼 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种芯片测试系统及方法，测试系统包含第一电路板、第一芯片载台、参考机台、第一芯片测试机台以及标准芯片。第一芯片载台电连接第一电路板，参考机台以及第一芯片测试机台皆有对芯片写入参数以进行测试的功能，其中参考机台或第一芯片测试机台对芯片进行测试时，芯片设置于第一芯片载台上，第一电路板电连接参考机台或第一芯片测试机台。参考机台测试标准芯片，以得到该标准芯片的最佳化参数，并且基于最佳化参数，于第一芯片测试机台上对标准芯片进行测试以得到第一测试结果，若第一测试结果超出预设规格，则对第一芯片测试机台进行调机；若第一测试结果未超出预设规格，则代表第一芯片测试机台完成测试机台校正。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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