[实用新型]一种新型开尔文测试机构有效
申请号: | 201920095505.9 | 申请日: | 2019-01-21 |
公开(公告)号: | CN209570662U | 公开(公告)日: | 2019-11-01 |
发明(设计)人: | 汪灏 | 申请(专利权)人: | 中之半导体科技(东莞)有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 东莞市永桥知识产权代理事务所(普通合伙) 44400 | 代理人: | 何新华 |
地址: | 523430 广东省东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型提供了一种新型开尔文测试机构,包括底座、测试台、调高装置,所述测试台上设有让位槽,所述让位槽内设有测试托料柱,所述测试托料柱顶端设有产品放置槽,所述测试托料柱两侧分别设有左测试组件、右测试组件,所述左测试组件包括第一测试片、以及与所述第一测试片间隔并列设置的第二测试片,所述右测试组件包括第三测试片、以及与所述第三测试片间隔并列设置的第四测试片,所述产品放置槽两侧分别设有左限位槽、右限位槽,所述第一测试片、第二测试片一端位于所述左限位槽内,所述第三测试片、第四测试片一端位于所述右限位槽内。本实用新型的开尔文测试机构,用于对二极管的性能测试,测试操作简单,测试结果精确。 | ||
搜索关键词: | 测试片 测试组件 限位槽 测试机构 托料 测试 本实用新型 产品放置槽 间隔并列 让位槽 二极管 测试操作 调高装置 性能测试 测试台 柱顶端 底座 | ||
【主权项】:
1.一种新型开尔文测试机构,其特征在于,包括底座(1)、位于所述底座(1)上侧的测试台(2)、以及连接在所述底座(1)与所述测试台(2)之间的调高装置(3),所述测试台(2)上设有让位槽(21),所述让位槽(21)内设有测试托料柱(4),所述测试托料柱(4)顶端设有产品放置槽(41),所述测试托料柱(4)两侧分别设有左测试组件(5)、右测试组件(6),所述左测试组件(5)包括第一测试片(51)、以及与所述第一测试片(51)间隔并列设置的第二测试片(52),所述右测试组件(6)包括第三测试片(61)、以及与所述第三测试片(61)间隔并列设置的第四测试片(62),所述产品放置槽(41)两侧分别设有左限位槽(42)、右限位槽(43),所述第一测试片(51)、第二测试片(52)一端位于所述左限位槽(42)内,所述第三测试片(61)、第四测试片(62)一端位于所述右限位槽(43)内。
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