[实用新型]利用霍尔效应测量非电磁材料厚度的装置有效

专利信息
申请号: 201920190154.X 申请日: 2019-02-12
公开(公告)号: CN209355858U 公开(公告)日: 2019-09-06
发明(设计)人: 沈洋;游泳;林卓选;郑亚琴 申请(专利权)人: 沈洋
主分类号: G01B7/06 分类号: G01B7/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 519088 广东省珠海市香洲*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型涉及一种利用霍尔效应测量非电磁材料厚度的装置,包括电源模块、信号处理模块、显示模块和探头,其中,所述探头设有探头接口端、接口卡槽、密封护套、磁性组件、芯片组件和探头底座,所述磁性组件和芯片组件设置在所述密封护套内,所述探头底座通过螺纹与所述密封护套连接;该装置还包括与所述探头组合使用的磁性元件,测量目标置于所述磁性元件与所述探头底座之间。实施本实用新型的测厚装置,具有以下有益效果:可用于测定如复合材料、吹塑部件、薄片、玻璃基板等非电磁材料的厚度,也可用于测量磁性材料表面非磁性覆盖层的厚度。
搜索关键词: 电磁材料 密封护套 探头底座 探头 本实用新型 磁性元件 磁性组件 霍尔效应 芯片组件 测量 可用 测量磁性材料 信号处理模块 玻璃基板 测厚装置 吹塑部件 电源模块 接口卡槽 探头接口 显示模块 复合材料 非磁性 覆盖层 螺纹
【主权项】:
1.一种利用霍尔效应测量非电磁材料厚度的装置,其特征在于,包括电源模块、信号处理模块、显示模块和探头,其中,所述探头设有探头接口端(1)、接口卡槽(2)、密封护套(3)、磁性组件(4)、芯片组件(5)和探头底座(6),所述磁性组件(4)和芯片组件(5)设置在所述密封护套(3)内,所述探头底座(6)通过螺纹与所述密封护套(3)连接;该装置还包括与所述探头组合使用的磁性元件(8),测量目标(7)置于所述磁性元件(8)与所述探头底座(6)之间;所述信号处理模块通过信号线与所述探头连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于沈洋,未经沈洋许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201920190154.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top