[实用新型]利用霍尔效应测量非电磁材料厚度的装置有效
申请号: | 201920190154.X | 申请日: | 2019-02-12 |
公开(公告)号: | CN209355858U | 公开(公告)日: | 2019-09-06 |
发明(设计)人: | 沈洋;游泳;林卓选;郑亚琴 | 申请(专利权)人: | 沈洋 |
主分类号: | G01B7/06 | 分类号: | G01B7/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 519088 广东省珠海市香洲*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种利用霍尔效应测量非电磁材料厚度的装置,包括电源模块、信号处理模块、显示模块和探头,其中,所述探头设有探头接口端、接口卡槽、密封护套、磁性组件、芯片组件和探头底座,所述磁性组件和芯片组件设置在所述密封护套内,所述探头底座通过螺纹与所述密封护套连接;该装置还包括与所述探头组合使用的磁性元件,测量目标置于所述磁性元件与所述探头底座之间。实施本实用新型的测厚装置,具有以下有益效果:可用于测定如复合材料、吹塑部件、薄片、玻璃基板等非电磁材料的厚度,也可用于测量磁性材料表面非磁性覆盖层的厚度。 | ||
搜索关键词: | 电磁材料 密封护套 探头底座 探头 本实用新型 磁性元件 磁性组件 霍尔效应 芯片组件 测量 可用 测量磁性材料 信号处理模块 玻璃基板 测厚装置 吹塑部件 电源模块 接口卡槽 探头接口 显示模块 复合材料 非磁性 覆盖层 螺纹 | ||
【主权项】:
1.一种利用霍尔效应测量非电磁材料厚度的装置,其特征在于,包括电源模块、信号处理模块、显示模块和探头,其中,所述探头设有探头接口端(1)、接口卡槽(2)、密封护套(3)、磁性组件(4)、芯片组件(5)和探头底座(6),所述磁性组件(4)和芯片组件(5)设置在所述密封护套(3)内,所述探头底座(6)通过螺纹与所述密封护套(3)连接;该装置还包括与所述探头组合使用的磁性元件(8),测量目标(7)置于所述磁性元件(8)与所述探头底座(6)之间;所述信号处理模块通过信号线与所述探头连接。
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