[实用新型]用于稳态法测量膏状材料导热性能的样品支架有效
申请号: | 201920201626.7 | 申请日: | 2019-02-15 |
公开(公告)号: | CN209525290U | 公开(公告)日: | 2019-10-22 |
发明(设计)人: | 李根;王忠诚;李世博;马先锋;严宝玉 | 申请(专利权)人: | 上海海事大学 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20;B25B11/00 |
代理公司: | 上海元好知识产权代理有限公司 31323 | 代理人: | 包姝晴;张妍 |
地址: | 201306 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种用于稳态法测量膏状材料导热性能的样品支架,其包含:上金属片、下金属片、金属丝以及绝热环;该绝热环具有中心孔,该中心孔的孔径与上金属片、下金属片的直径一致,待测膏状材料分别涂覆在上金属片、下金属片上形成待测膏状材料涂层,金属丝位于下金属片上的待测膏状材料涂层中。本实用新型的样品支架结构简便,通过该样品支架制备的试样用于稳态法测量装置以测量膏状材料的导热系数,在施加压力的情况下,可以保证膏状材料具有足够的厚度,从而减少了测量误差。本实用新型提供的测量方法,在计算过程中消除了传统测量方法中测量臂与膏状材料之间接触热阻对测量结果的影响,实现了膏状材料导热系数的准确测量。 | ||
搜索关键词: | 膏状材料 下金属片 样品支架 测量 本实用新型 上金属片 稳态法 导热系数 导热性能 金属丝 绝热环 中心孔 测量装置 传统测量 计算过程 接触热阻 施加压力 直径一致 准确测量 测量臂 涂覆 制备 保证 | ||
【主权项】:
1.一种用于稳态法测量膏状材料导热性能的样品支架,其特征在于,该样品支架包含:上金属片、下金属片、金属丝以及绝热环;所述的绝热环具有中心孔,该中心孔的孔径与上金属片、下金属片的直径一致,待测膏状材料分别涂覆在上金属片、下金属片上形成待测膏状材料涂层,所述金属丝位于下金属片上的待测膏状材料涂层中。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海海事大学,未经上海海事大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201920201626.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种模拟土壤冻融的装置
- 下一篇:一种油品开口闪点测试装置