[实用新型]一种X荧光在空气条件下测量轻元素的几何检测装置有效

专利信息
申请号: 201920218626.8 申请日: 2019-02-18
公开(公告)号: CN209707413U 公开(公告)日: 2019-11-29
发明(设计)人: 苏建平;郭晓明;乔文韬 申请(专利权)人: 上海精谱科技有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 31224 上海天翔知识产权代理有限公司 代理人: 吕伴<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 201806 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开了一种X荧光在空气条件下测量轻元素的几何检测装置,包括:一激发光源装置,一用于探测信号的信号探测装置,一放置于所述激发光源装置和所述信号探测装置下方的待测样品放置装置,其中,所述激发光源装置的X射线管为端窗型微聚焦X射线管,安装方式为采用斜向44‑46°向下照射方式;所述信号探测装置的信号探测器为垂直向下的安装方式,且所述信号探测器的铍窗表面离待测样品表面为2.9‑3.1mm。本实用新型采用上照方式,几何角度设计,待测样品上表面直接受照射激发方式,不加薄膜,只要在空气条件下,即可测量钠、镁、铝、硅等轻元素,并获得轻元素的高灵敏度和高检出限,特别适合于液体样品中轻元素的分析测试。
搜索关键词: 轻元素 激发光源装置 信号探测装置 待测样品 本实用新型 信号探测器 安装方式 空气条件 测量 垂直向下 放置装置 分析测试 高灵敏度 几何检测 角度设计 探测信号 向下照射 液体样品 端窗型 上表面 斜向 铍窗 薄膜 照射 聚焦 激发
【主权项】:
1.一种X荧光在空气条件下测量轻元素的几何检测装置,其特征在于,包括:/n一激发光源装置,/n一用于探测信号的信号探测装置,/n一放置于所述激发光源装置和所述信号探测装置下方的待测样品放置装置,/n其中,所述激发光源装置的X射线管为端窗型微聚焦X射线管,安装方式为采用斜向44-46°向下照射方式;/n所述信号探测装置的信号探测器为垂直向下的安装方式,且所述信号探测器的铍窗表面离待测样品表面为2.9-3.1mm。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海精谱科技有限公司,未经上海精谱科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201920218626.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top