[实用新型]一种带限位结构的芯片测试装置有效
| 申请号： | 201920222282.8 | 申请日： | 2019-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN209606573U | 公开（公告）日： | 2019-11-08 |
| 发明（设计）人： | 彭朝亮 | 申请（专利权）人： | 华芯智造微电子（重庆）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 401420 重庆市*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种带限位结构的芯片测试装置，包括设置在顶板的下端的芯片测试探针，所述芯片测试探针的上端侧壁与顶板的下端侧壁固定连接，所述顶板的下方设有底板，所述顶板与底板之间通过支撑板固定连接，所述芯片测试探针的下方设有测试板，所述测试板的上端侧壁上设有放置槽，所述底板上设有升降机构，所述测试板上设有限位机构。本实用新型具有限位机构，可调节控制芯片的位置，使得芯片测试探针可探到芯片中不同的测试点，结构简单，操作简便，可调节测试板的高度，从而调节待测试的芯片的高度，便于对芯片进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片测试 测试板 探针 底板 芯片测试装置 本实用新型 上端侧壁 限位结构 芯片 可调节 测试 控制芯片 升降机构 下端侧壁 限位机构 测试点 放置槽 支撑板 | ||
【主权项】：
1.一种带限位结构的芯片测试装置，包括设置在顶板（2）的下端的芯片测试探针（1），其特征在于，所述芯片测试探针（1）的上端侧壁与顶板（2）的下端侧壁固定连接，所述顶板（2）的下方设有底板（3），所述顶板（2）与底板（3）之间通过支撑板（4）固定连接，所述芯片测试探针（1）的下方设有测试板（5），所述测试板（5）的上端侧壁上设有放置槽（6），所述底板（3）上设有升降机构，所述测试板（5）上设有限位机构。
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