[实用新型]一种温度补偿晶体振荡器的测试单元和测试装置有效
| 申请号： | 201920340431.0 | 申请日： | 2019-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN210155255U | 公开（公告）日： | 2020-03-17 |
| 发明（设计）人： | 赵慧婷;苗志坤 | 申请（专利权）人： | 航天科工防御技术研究试验中心 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人： | 张拥 |
| 地址： | 100085*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种温度补偿晶体振荡器的测试单元和测试装置，包括测试电路板和测试夹具；测试电路板上设置有测试夹具，测试夹具通过测试电路板与外置的晶体振荡器温度特性测试系统连接，待测试的温度补偿晶体振荡器与测试夹具连接；测试电路板包括测试电路，测试电路包括第一电容、第二电容、第一探针、示波器和频率计；第一电容连接至待测试的温度补偿晶体振荡器的电源输入端，待测试的温度补偿晶体振荡器的第一输出端通过第一探针依次连接示波器和频率计，待测试的温度补偿晶体振荡器的第一输出端和第一探针之间连接有第二电容。该测试单元实现了对温度补偿晶体振荡器的检测，加强了对晶体振荡器固有可靠性和使用可靠性的控制。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 温度 补偿 晶体振荡器 测试 单元 装置 | ||
【主权项】：
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