[实用新型]超薄纳米晶带材宽度检测装置有效
| 申请号： | 201920403554.4 | 申请日： | 2019-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN209668441U | 公开（公告）日： | 2019-11-22 |
| 发明（设计）人： | 晋立丛;邓毕力;冯英杰;罗顶飞 | 申请（专利权）人： | 安徽智磁新材料科技有限公司 |
| 主分类号： | B65H26/00 | 分类号： | B65H26/00;B65H23/032 |
| 代理公司： | 11265 北京挺立专利事务所(普通合伙) | 代理人： | 盛君梅<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 236000 安徽省阜阳*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种超薄纳米晶带材宽度检测装置，包括放卷机构、检测平台、收卷机构以及PLC控制器，所述检测平台上设置有若干导辊以及用于检测带材宽度的检测头，所述放卷机构包括放卷轴、放卷电机、导辊以及纠偏传感器，纠偏传感器连接PLC控制器，纠偏传感器用于检测带材的位置；PLC控制器控制放卷电机，且放卷轴在PLC控制器控制下，可沿轴往复运动。当纠偏传感器检测到带材发生偏移时，PLC控制器控制气缸作用，收卷轴进行轴向移动进行调整，可以保证检测头检测的带材宽度为准确值。 | ||
| 搜索关键词： | 带材 纠偏传感器 检测 放卷电机 放卷机构 放卷轴 检测头 导辊 宽度检测装置 本实用新型 控制气缸 收卷机构 轴向移动 偏移 纳米晶 收卷轴 保证 | ||
【主权项】：
1.一种超薄纳米晶带材宽度检测装置，包括放卷机构、检测平台、收卷机构以及PLC控制器，所述检测平台上设置有若干导辊以及用于检测带材宽度的检测头，其特征在于：所述放卷机构包括放卷轴、放卷电机、导辊以及纠偏传感器，纠偏传感器连接PLC控制器，纠偏传感器用于检测带材的位置；PLC控制器控制放卷电机，且放卷轴在PLC控制器控制下，可沿轴往复运动。/n
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