[实用新型]激光器芯片用测试装置有效

专利信息
申请号: 201920442627.0 申请日: 2019-04-03
公开(公告)号: CN210720639U 公开(公告)日: 2020-06-09
发明(设计)人: 罗跃浩;徐鹏嵩;赵山;王化发 申请(专利权)人: 苏州联讯仪器有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04;G01R1/02
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 王健
地址: 215000 江苏省苏州市高新*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开一种激光器芯片用测试装置,包括测试载台、连接块和控制组件,所述测试载台上安装有一载板,此载板上开有若干供芯片嵌入的芯片槽,所述载板上具有若干与芯片连通的导线,此若干个导线在载板一端形成一电连接头,所述连接块上开有供电连接头插入的连接口,此连接块与控制组件电连接;所述载板正下方设置有一冷却盒,此冷却盒上开有进水口和出水口,所述冷却盒内设置有与进水口、出水口贯通的冷却腔,所述进水口和出水口均通过水管与一冷却水循环箱连通,所述载板下表面还设置有一导热板,此导热板用于与冷却盒上表面接触连接。本实用新型其不仅能够进行高功率激光器和芯片的批量化测试,还能有效控制温度,提高测试精度。
搜索关键词: 激光器 芯片 测试 装置
【主权项】:
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