[实用新型]一种穿通型中低压平面TVS芯片有效

专利信息
申请号: 201920465189.X 申请日: 2019-04-09
公开(公告)号: CN209526088U 公开(公告)日: 2019-10-22
发明(设计)人: 朱明;张超;王成森 申请(专利权)人: 捷捷半导体有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/861
代理公司: 南京正联知识产权代理有限公司 32243 代理人: 卢海洋
地址: 226200 江苏省南通市苏通科技产*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开一种穿通型中低压平面TVS芯片,包括设置在P‑型硅片正反两面的N+扩散区和P+扩散区,P‑型硅片、N+扩散区和P+扩散区周围环绕设置N‑穿通隔离区,N‑穿通隔离区内侧和P+扩散区交接处设置二氧化硅钝化层,P+扩散区外表面设置阳极电极,N+扩散区表面设置阴极电极。制备方法,1)氧化;2)光刻穿通环;3)磷穿通扩散;4)正面刻窗口;5)硼扩散;6)去除背面氧化层;7)磷扩散;8)光刻引线;9)表面金属化;10)正面光刻反刻;11)真空合金;芯片测试;砂轮划片分离;芯片整理。利用耐压较高的穿通环保护内部耐压较低的PN结,防止焊锡膏溢至侧壁导致芯片短路、提高封装良率。
搜索关键词: 穿通 扩散区 隔离区 中低压 硅片 光刻 耐压 芯片 二氧化硅钝化层 砂轮 背面氧化层 本实用新型 表面金属化 扩散区表面 环绕设置 芯片测试 阳极电极 阴极电极 正反两面 正面光刻 焊锡膏 交接处 磷扩散 硼扩散 短路 侧壁 反刻 划片 良率 去除 封装 制备 合金 扩散
【主权项】:
1.一种穿通型中低压平面TVS芯片,其特征在于:包括设置在P‑型硅片(1)正反两面的N+扩散区(3)和P+扩散区(4),所述P‑型硅片(1)、N+扩散区(3)和P+扩散区(4)周围环绕设置N‑穿通隔离区(2),所述N‑穿通隔离区(2)内侧和P+扩散区(4)交接处设置二氧化硅钝化层(5),所述P+扩散区(4)外表面设置阳极电极(6),所述N+扩散区(3)表面设置阴极电极(7)。
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