[实用新型]一种COC芯片老化测试设备有效
| 申请号： | 201920500787.6 | 申请日： | 2019-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN210072002U | 公开（公告）日： | 2020-02-14 |
| 发明（设计）人： | 胡思强;李连城;周益平 | 申请（专利权）人： | 深圳市迅特通信技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 44388 深圳卓正专利代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 万正平 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区南头*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种COC芯片老化测试设备。该COC芯片老化测试设备(1000)包括多个测试单元(400)和测试架(500)；每个测试单元(400)均包括用于对COC芯片(205)进行限位的芯片限位组件(410)和用于安装测试探针(302)的探针安装组件(420)，探针安装组件(420)位于芯片限位组件(410)的正上方；测试架(500)包括芯片限位平台(510)和位于芯片限位平台(510)上方的探针安装平台(520)，各芯片限位组件(410)沿长度方向(L)排列设置在芯片限位平台(510)上，各探针安装组件(420)沿长度方向(L)排列设置在探针安装平台(520)上。根据本实用新型的COC芯片老化测试设备，能够可靠定位和加电，能方便快捷地进行上料操作。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片限位 探针安装 老化测试设备 本实用新型 测试单元 排列设置 测试架 安装测试 可靠定位 加电 上料 探针 限位 | ||
【主权项】：
1.一种COC芯片老化测试设备(1000)，其特征在于，所述COC芯片老化测试设备(1000)包括多个测试单元(400)和测试架(500)；/n每个测试单元(400)均包括用于对COC芯片(205)进行限位的芯片限位组件(410)和用于安装测试探针(302)的探针安装组件(420)，所述探针安装组件(420)位于所述芯片限位组件(410)的正上方；/n所述测试架(500)包括芯片限位平台(510)和位于芯片限位平台(510)上方的探针安装平台(520)，各芯片限位组件(410)沿长度方向(L)排列设置在芯片限位平台(510)上，各探针安装组件(420)沿长度方向(L)排列设置在探针安装平台(520)上。/n
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