[实用新型]缺陷检测装置及硅片分选设备有效
| 申请号： | 201920649746.3 | 申请日： | 2019-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN210571994U | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 李文;李昶;徐飞 | 申请（专利权）人： | 无锡奥特维科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京路胜元知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11669 | 代理人： | 路兆强;张亚彬 |
| 地址： | 214000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提供一种缺陷检测装置及硅片分选设备，该缺陷检测装置包括：检测单元，设置在输送装置的机架上，且位于输送装置的指定检测位置上方，用于对经过指定检测位置的电池片或硅片的隐裂进行检测；及光源，设置在输送装置的机架上，用于向指定检测位置提供光照。本实用新型提供的缺陷检测装置，其可以在电池片或硅片的传输过程中自动检测电池片或硅片的缺陷，而且检测精度和可靠性较高。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 装置 硅片 分选 设备 | ||
【主权项】：
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