[实用新型]一种升降机构及芯片测试设备有效
申请号: | 201920677338.9 | 申请日: | 2019-05-13 |
公开(公告)号: | CN209909441U | 公开(公告)日: | 2020-01-07 |
发明(设计)人: | 张磊 | 申请(专利权)人: | 苏州华兴源创科技股份有限公司 |
主分类号: | F16M11/04 | 分类号: | F16M11/04;F16M11/18;B66F7/02 |
代理公司: | 11332 北京品源专利代理有限公司 | 代理人: | 胡彬 |
地址: | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型涉及芯片测试技术领域,公开一种升降机构及芯片测试设备。其中,升降机构包括升降平台、配重组件、带传动组件和驱动组件。本实用新型提供的升降机构,一方面,通过将升降平台与多条间隔排列的传送带连接,可以增加升降平台与传送带总体的接触区域,从而提高升降平台运行的稳定性;另一方面,将多条传送带与配重组件的连接点呈等腰三角形设置,可以在狭窄的空间内达到三点稳定的效果,从而能够有效避免由于配重组件在升降过程中运行不稳定而造成升降平台发生晃动,进一步提高了升降平台运行的稳定性。 | ||
搜索关键词: | 升降平台 传送带 配重组件 升降机构 本实用新型 等腰三角形设置 芯片测试设备 带传动组件 间隔排列 接触区域 驱动组件 升降过程 芯片测试 连接点 晃动 狭窄 | ||
【主权项】:
1.一种升降机构,其特征在于,包括:/n升降平台(1);/n配重组件(2);/n带传动组件(3),包括传送带(31)和第一传送轮(32),所述传送带(31)绕过所述第一传送轮(32),多条所述传送带(31)间隔排列,所述升降平台(1)与多条所述传送带(31)连接,多条所述传送带(31)与所述配重组件(2)连接且连接点在所述配重组件(2)上呈等腰三角形分布;/n驱动组件(4),被配置为驱动所述带传动组件(3)。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州华兴源创科技股份有限公司,未经苏州华兴源创科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201920677338.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种位置调整装置及测试设备
- 下一篇:支撑结构及显示器支撑装置