[实用新型]一种低温下材料热膨胀系数的测试装置有效
申请号: | 201920708898.6 | 申请日: | 2019-05-17 |
公开(公告)号: | CN210269673U | 公开(公告)日: | 2020-04-07 |
发明(设计)人: | 王镇;莫德锋;李雪;徐红艳;刘大福;王小坤;范崔 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | G01N25/16 | 分类号: | G01N25/16 |
代理公司: | 上海沪慧律师事务所 31311 | 代理人: | 郭英 |
地址: | 200083 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本专利公开了一种低温下材料热膨胀系数的测试装置,该装置包括真空腔体(10)、真空腔体底座(6)、真空泵(1)、制冷装置(5)、测温电阻(14)、电容位移传感器(16)、焊接波纹管(8)、五维位移台(7)、可视化窗口(11)、防辐射屏(18)、数据处理和显示模块(12)。待测样品通过制冷装置冷平台支撑并由制冷装置提供冷量。电容位移传感器左右对置于待测样品的两端以测量待测样品的形变量。数据处理和显示模块对装置中各设备进行实时数据采集、数据处理和结果显示。本装置可获得低温下材料的形变量和热膨胀系数,具有测试结构简单、操作方便、测量精度高的特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 低温 材料 热膨胀 系数 测试 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海技术物理研究所,未经中国科学院上海技术物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201920708898.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于液压衬套的流道体
- 下一篇:一次性消化道缝合取样吻合器