[实用新型]用于核辐射探测的半导体中子探测器有效

专利信息
申请号: 201920811529.X 申请日: 2019-05-31
公开(公告)号: CN210015862U 公开(公告)日: 2020-02-04
发明(设计)人: 韩天宇;张玲玲;林恒 申请(专利权)人: 无锡华普微电子有限公司
主分类号: H01L31/118 分类号: H01L31/118;H01L31/0216;G01T3/08
代理公司: 32104 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 代理人: 殷红梅
地址: 214135 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型涉及半导体技术领域,具体涉及一种用于核辐射探测的半导体中子探测器。所述用于核辐射探测的半导体中子探测器包括:衬底,所述衬底包括连为一体的上部和下部;A中子转换层,所述A中子转换层形成于所述衬底的上部,且所述A中子转换层上表面设有A金属层;B中子转换层,所述B中子转换层形成于所述衬底的下部,且所述B中子转换层下表面设有B金属层;电子收集层,所述电子收集层形成于所述A中子转换层外周的衬底的上部。所述用于核辐射探测的半导体中子探测器具有能够提高探测效率以及辐射能量分辨率,并且具有低功耗以及时间响应快的特点。
搜索关键词: 中子转换层 衬底 核辐射探测 中子探测器 半导体 电子收集层 半导体技术领域 本实用新型 辐射能量 时间响应 探测效率 低功耗 分辨率 金属层 上表面 下表面 外周
【主权项】:
1.一种用于核辐射探测的半导体中子探测器,其特征是,所述用于核辐射探测的半导体中子探测器包括:/n衬底(100),所述衬底(100)包括连为一体的上部和下部;/nA中子转换层(200),所述A中子转换层(200)形成于所述衬底(100)的上部,且所述A中子转换层(200)上表面设有A金属层(210);/nB中子转换层(300),所述B中子转换层(300)形成于所述衬底(100)的下部,且所述B中子转换层(300)下表面设有B金属层(310);/n电子收集层(400),所述电子收集层(400)形成于所述 A中子转换层(200)外周的衬底(100)的上部。/n
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