[实用新型]一种芯片测试的自定心结构

摘要

本实用新型涉及机械技术领域，具体为一种芯片测试的自定心结构，包括十字支撑架，十字支撑架的下方设有上卡盘和下卡盘，上卡盘上设有芯片孔，下卡盘的下表面设有面板。该芯片测试的自定心结构，将十字支撑架靠近张开限位柱的一端向卡口内推进，使得位于十字支撑架两侧的滚轮向上卡盘和下卡盘的两侧滑进，位于十字支撑架后端的滚轮向滚轮孔内滑进，使得芯片夹持在上卡盘和下卡盘之间，以此实现芯片中心快速定位的效果，提高测试速度，解决芯片测试机构不便于芯片进行快速中心定位的问题。

主权项

1.一种芯片测试的自定心结构，包括十字支撑架(1)，其特征在于：所述十字支撑架(1)的后端以及两侧均设有第一通孔(11)，所述十字支撑架(1)的前端两侧均设有第二通孔(12)，所述十字支撑架(1)的前端设有第三通孔(13)，所述第一通孔(11)上设有滚轮(14)，所述滚轮(14)上设有两个环形槽(141)，所述第二通孔(12)上设有转轴(15)，所述转轴(15)上设有摇臂(16)，所述摇臂(16)上设有圆孔(161)，所述第三通孔(13)上设有张开限位柱(17)，所述十字支撑架(1)的下方设有上卡盘(2)和下卡盘(3)，所述上卡盘(2)上设有芯片孔(21)，所述上卡盘(2)位于所述芯片孔(21)的位置处紧密焊接有挡块(211)，所述上卡盘(2)的一端设有第一摇臂孔(22)，所述上卡盘(2)的一端设有滚轮孔(23)，所述下卡盘(3)上设有异形孔(31)，所述下卡盘(3)的一端对称设有两个第二摇臂孔(32)，所述下卡盘(3)的下表面设有面板(4)，所述面板(4)上设有方形孔(41)，所述面板(4)的前端设有卡口(42)，所述面板(4)的后端设有滚轮活动孔(43)，所述面板(4)的后端对称设有两个限位孔(44)，所述限位孔(44)内设有闭合限位柱(441)。/n