[实用新型]半导体器件有效

专利信息
申请号: 201920904236.6 申请日: 2019-06-17
公开(公告)号: CN210136879U 公开(公告)日: 2020-03-10
发明(设计)人: 王英杰;饶晓俊 申请(专利权)人: 杭州士兰集成电路有限公司
主分类号: H01L29/866 分类号: H01L29/866;H01L29/06;H01L21/329
代理公司: 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 代理人: 蔡纯;王月玲
地址: 310018 浙江省杭州市杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 本申请公开了一种半导体器件,该半导体器件包括:半导体衬底,在半导体衬底的第二表面引出第二电极端;外延层,位于半导体衬底的第一表面上;基区,自外延层表面延伸至外延层中;发射区,自基区表面延伸至基区中以引出第一电极端;第一掺杂区,自外延层表面延伸至外延层中,第一掺杂区与基区被外延层分隔;第二掺杂区,位于外延层中,分别与基区、第一掺杂区接触;以及电导通路径,用于将第一掺杂区与外延层电连接,其中,半导体衬底、外延层以及发射区的掺杂类型为第一掺杂类型,基区、第一掺杂区以及第二掺杂区的掺杂类型为第二掺杂类型,第一掺杂类型与第二掺杂类型相反。
搜索关键词: 半导体器件
【主权项】:
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