[实用新型]一种物体三维形貌测量装置有效

专利信息
申请号: 201920937394.1 申请日: 2019-06-20
公开(公告)号: CN209820424U 公开(公告)日: 2019-12-20
发明(设计)人: 李勇;魏一振;张卓鹏 申请(专利权)人: 杭州光粒科技有限公司
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 33235 杭州华知专利事务所(普通合伙) 代理人: 张德宝
地址: 310012 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型提供一种物体三维形貌测量装置,所述装置包括:模板、支撑架和相机,所述模板设置于所述支撑架上,所述模板具有预设图案,其用于接收外界阳光的照射并在相对侧形成阴影图案,所述阴影图案投影在被测物体上,所述相机拍摄被所述阴影图案覆盖的被测物体以得到对应的变形图案,基于所述变形图案对所述被测物体的三维形貌进行测量。本实用新型的物体三维形貌测量装置采用阳光作为光源以对物体表面形貌进行主动双目三维测量,无需投影成像光学系统,并且只需一个模板或者再加上若干个平面反射镜即可实现野外三维测量任务,整体结构简单,测量成本较低。
搜索关键词: 被测物体 阴影图案 三维形貌测量装置 本实用新型 变形图案 三维测量 支撑架 投影成像光学系统 物体表面形貌 平面反射镜 测量成本 模板设置 三维形貌 外界阳光 相机拍摄 预设图案 光源 投影 双目 照射 相机 野外 测量 覆盖
【主权项】:
1.一种物体三维形貌测量装置,其特征在于,包括:模板、支撑架和相机,所述模板设置于所述支撑架上,所述模板具有预设图案,其用于接收外界阳光的照射并在相对侧形成阴影图案,所述阴影图案投影在被测物体上,所述相机拍摄被所述阴影图案覆盖的被测物体以得到对应的变形图案,基于所述变形图案对所述被测物体的三维形貌进行测量。/n
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