[实用新型]一种基体分离测试焊锡中杂质的测试装置有效
| 申请号： | 201921015180.5 | 申请日： | 2019-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN210665489U | 公开（公告）日： | 2020-06-02 |
| 发明（设计）人： | 张军;刘旭深;陈玉巧 | 申请（专利权）人： | 深圳市安普检测技术服务有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/35 | 分类号： | G01N21/35 |
| 代理公司： | 深圳市华盛智荟知识产权代理事务所(普通合伙) 44604 | 代理人： | 孙成 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及杂质检测技术领域，尤其涉及一种基体分离测试焊锡中杂质的测试装置，包括：中央处理器、红外光发射器及红外光传感器。通过红外光发射器实现了对红外光电路的恒流驱动发光，产生的稳定红外光发射到基体分离测试焊锡中，经过CCD图像传感器对焊锡中杂质进行成像分析处理，分析结果数据传输至中央处理器处理与预存的样本数据进行对比，并通过LCD显示屏显示出来。提供了稳定的红外光，提高了检测精度及准确性，减小测量误差；集图像采集、杂质检测及触摸显示于一体、智能控制、操作方便快捷，简便检测过程。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基体 分离 测试 焊锡 杂质 装置 | ||
【主权项】：
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