[实用新型]一种垂直下压浮动式微针测试设备有效
| 申请号： | 201921090479.7 | 申请日： | 2019-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN210401475U | 公开（公告）日： | 2020-04-24 |
| 发明（设计）人： | 黄庆云 | 申请（专利权）人： | 深圳市振云精密测试设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市龙成联合专利代理有限公司 44344 | 代理人： | 陈丽燕 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区西乡街道龙珠社区10*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及测试治具技术领域，涉及一种垂直下压浮动式微针测试设备，包括底座，所述底座上设置有测试组件，所述底座一侧设置有下卡勾，与所述底座一端连接的翻盖，所述翻盖上端设置有一上卡勾，所述翻盖内设置有压块组件，通过旋转轴在限位槽相对位移，保证了压块组件下压时方向保持垂直，由于分别在压块上增加导向块和在载板上增加导向槽，进一步保证压块下压测试PCB时保持垂直，测试PCB不会横向移位，确保测试过程的稳定，并通过弹性件转接驱动压块下压测试PCB板，调节对PCB板的压力，防止PCB板直接与探针接触，从而避免损坏探针和刮伤PCB板。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 垂直 下压 浮动 式微 测试 设备 | ||
【主权项】：
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