[实用新型]一种基于QFN8(2X2)封装的通用测试板有效
| 申请号： | 201921115867.6 | 申请日： | 2019-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN210720641U | 公开（公告）日： | 2020-06-09 |
| 发明（设计）人： | 万建飞 | 申请（专利权）人： | 无锡领测半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 程爽 |
| 地址： | 214000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种基于QFN8(2X2)封装的通用测试板，包括PCB底板以及设置于其上的测试座、接口区，所述PCB底板通过定位孔固定在分选机上，所述测试座用于固定待测IC并通过线缆连接所述接口区上的34PIN接口，所述34PIN接口连接测试机测头进行测试并用于返回测试信号。本实用新型能够通用QFN8(2X2)封装的所有IC的测试型号，每种IC在测试时，不需要更换测试座及连接接口，提高了测试效率和更换测试产品的时间，同时能够保证测试的准确性和稳定性，便于IC的大规模的测试量产。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 qfn8 x2 封装 通用 测试 | ||
【主权项】：
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