[实用新型]光学式瑕疵检测系统有效
| 申请号： | 201921174511.X | 申请日： | 2019-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN210803301U | 公开（公告）日： | 2020-06-19 |
| 发明（设计）人： | 李彦志 | 申请（专利权）人： | 联策科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 | 代理人： | 孙腾 |
| 地址： | 中国台湾桃园*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种光学式瑕疵检测系统，包含：至少一子平台，该子平台承载至少一待测物；一垂直移动控制机构，分别控制该子平台升降至一对应高度；一侧面影像拍摄系统，拍摄该量测平台的该等待测物的一侧面影像；一相机移动控制机构，运作使该第二影像拍摄系统对准位于该对应高度的子平台所承载的该待测物；以及一处理单元，根据该待测物的侧面影像判断该待测物的瑕疵。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 瑕疵 检测 系统 | ||
【主权项】：
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