[实用新型]一种电路测试装置有效
申请号: | 201921184610.6 | 申请日: | 2019-07-26 |
公开(公告)号: | CN210487911U | 公开(公告)日: | 2020-05-08 |
发明(设计)人: | 孔伟成;李松 | 申请(专利权)人: | 合肥本源量子计算科技有限责任公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 230008 安徽省合肥*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本实用新型属于测控领域,具体公开了一种电路测试装置,包括位于常温的检测装置和位于低温的测试功能板,所述测试功能板上设置有若干测试电路;若干所述测试电路的两端分别设置有第一单刀多掷开关和第二单刀多掷开关;所述第一单刀多掷开关和所述第二单刀多掷开关均通过连接线连接位于常温的所述检测装置;可以通过切换所述第一单刀多掷开关和所述第二单刀多掷开关连通任一所述测试电路;通过所述第一单刀多掷开关的动端和所述第二单刀多掷开关的动端的同步切换,实现原位地切换到任一所述被测件电路,通过所述检测装置测量被测件的参数,也可以原位地切换到其他被测件电路,极大地提高了微波被测件的测试精度与测试效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 电路 测试 装置 | ||
【主权项】:
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